
鍍層厚度檢測(cè)
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鍍層厚度 檢測(cè)介紹
隨著材料表面技術(shù)的廣泛應(yīng)用和高速發(fā)展,衡量鍍層優(yōu)劣也日益受到大家重視,通常鍍層測(cè)試包括外觀、附著力、硬度、孔隙率、耐腐蝕性、成分和厚度等項(xiàng)目,其中鍍層厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo),是其物理性能測(cè)試中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié),在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性以及使用壽命。
鍍層厚度 檢測(cè)步驟
①試樣截取—微切片:
原理:試樣經(jīng)截取,填充環(huán)氧樹(shù)脂后,垂直于試樣方向所做的橫斷面切片,是一種觀察樣品截面組織結(jié)構(gòu)情況的最常用的制樣手段。
②測(cè)試步驟:取樣—鑲埋—研磨、拋光、腐蝕
A. 取樣(切割):精密切割(大部分材料)、砂輪切割(金屬材料)、特殊切割(硬度不高的金屬或非金屬材料)
B. 鑲埋:冷鑲(適用于所有產(chǎn)品)、熱鑲(適用于鋼材)、不鑲(適用于具有較大平面的樣品)
C. 研磨、拋光: 砂輪打平—粗砂紙—細(xì)砂紙—粗拋—細(xì)拋—精拋—微腐蝕
鍍層厚度 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法
GB 5929-1986 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測(cè)試方法 金相顯微鏡法
BS EN ISO 2360-2017 非磁性導(dǎo)電基體上非導(dǎo)體覆蓋層.鍍層厚度的測(cè)量.振幅靈敏性渦流法
ISO 2360-2017 非磁性導(dǎo)電基體上非導(dǎo)體覆蓋層.鍍層厚度的測(cè)量.振幅靈敏性渦流法
DIN EN 13523-1-2017 卷材鍍層金屬.試驗(yàn)方法.第1部分:膜厚度
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分:鍍層厚度分析儀
GOST R 56473-2015 空間系統(tǒng). 電鍍鎳和兩層鎳鉻鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè). 通用要求
GOST R 56475-2015 空間系統(tǒng). 液體推進(jìn)劑發(fā)動(dòng)機(jī)部件和組件厚鎳鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè). 通用要求
ASTM A1073/A1073M-2014 用手動(dòng)千分尺測(cè)定非金屬物質(zhì)和金屬物質(zhì)鍍層鋼板厚度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
GOST R 55042-2012 無(wú)損檢測(cè). 采用超聲波估算金屬鍍層厚度. 通用要求
GOST R ISO 16962-2012 鋼表面鋅基和/或鋁基鍍層. 采用輝光放電原子發(fā)射光譜法對(duì)單位面積鍍層厚度, 化學(xué)成分和質(zhì)量的測(cè)定
NF A91-481-2010 鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化.陽(yáng)極氧化物鍍層厚度的測(cè)定.分光顯微鏡的無(wú)損測(cè)量
KS D 8519-2009 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法
服務(wù)優(yōu)勢(shì)
1.國(guó)科控股旗下獨(dú)立第三方檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)。
2.豐富的政策解讀、行業(yè)調(diào)研及實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)。
3.與相關(guān)政府部門(mén)及行業(yè)協(xié)會(huì)長(zhǎng)期密切合作。
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CPSIA檢測(cè)中科檢測(cè)CPSIA檢測(cè)服務(wù)可以幫助核查產(chǎn)品是否符合CPSIA標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求,從而降低產(chǎn)品的出口風(fēng)險(xiǎn),贏得市場(chǎng)信賴。
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TSCA檢測(cè)中科檢測(cè)具備TSCA法規(guī)解讀,針對(duì)原材料和電子電氣成品,能為客戶提供TSCA檢測(cè)和風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)評(píng)估,可評(píng)估整機(jī)產(chǎn)品法規(guī)定義內(nèi)的風(fēng)險(xiǎn)材料,并給予一站式的測(cè)試方案,
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XRD分析X射線衍射(XRD)是研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法,也是科研人最常用的材料表征方法之一。
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錫須觀察測(cè)量錫須是在純錫或錫合金鍍層表面自發(fā)生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)形狀的錫的結(jié)晶。在電子線路中,錫須會(huì)引起短路,降低電子器件的可靠性,甚至引發(fā)電子器件故障或失效。