鍍層厚度檢測(cè)

鍍層厚度是指被鍍層物體表面上堆積的金屬材料的厚度,也叫做鍍層沉積厚度。鍍層厚度是評(píng)價(jià)鍍層質(zhì)量的一個(gè)重要參數(shù),通常用微米、毫米或者英寸等單位來(lái)表示。
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鍍層厚度 檢測(cè)介紹

隨著材料表面技術(shù)的廣泛應(yīng)用和高速發(fā)展,衡量鍍層優(yōu)劣也日益受到大家重視,通常鍍層測(cè)試包括外觀、附著力、硬度、孔隙率、耐腐蝕性、成分和厚度等項(xiàng)目,其中鍍層厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo),是其物理性能測(cè)試中很重要的一個(gè)環(huán)節(jié),在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性以及使用壽命。

鍍層厚度 檢測(cè)步驟

①試樣截取—微切片:

原理:試樣經(jīng)截取,填充環(huán)氧樹(shù)脂后,垂直于試樣方向所做的橫斷面切片,是一種觀察樣品截面組織結(jié)構(gòu)情況的最常用的制樣手段。

②測(cè)試步驟:取樣—鑲埋—研磨、拋光、腐蝕


A. 取樣(切割):精密切割(大部分材料)、砂輪切割(金屬材料)、特殊切割(硬度不高的金屬或非金屬材料)

B. 鑲埋:冷鑲(適用于所有產(chǎn)品)、熱鑲(適用于鋼材)、不鑲(適用于具有較大平面的樣品)

C. 研磨、拋光: 砂輪打平—粗砂紙—細(xì)砂紙—粗拋—細(xì)拋—精拋—微腐蝕


鍍層厚度 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法
GB 5929-1986 輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的厚度測(cè)試方法 金相顯微鏡法
BS EN ISO 2360-2017 非磁性導(dǎo)電基體上非導(dǎo)體覆蓋層.鍍層厚度的測(cè)量.振幅靈敏性渦流法
ISO 2360-2017 非磁性導(dǎo)電基體上非導(dǎo)體覆蓋層.鍍層厚度的測(cè)量.振幅靈敏性渦流法
DIN EN 13523-1-2017 卷材鍍層金屬.試驗(yàn)方法.第1部分:膜厚度
JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分:鍍層厚度分析儀
GOST R 56473-2015 空間系統(tǒng). 電鍍鎳和兩層鎳鉻鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè). 通用要求
GOST R 56475-2015 空間系統(tǒng). 液體推進(jìn)劑發(fā)動(dòng)機(jī)部件和組件厚鎳鍍層厚度的無(wú)損檢測(cè). 通用要求
ASTM A1073/A1073M-2014 用手動(dòng)千分尺測(cè)定非金屬物質(zhì)和金屬物質(zhì)鍍層鋼板厚度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
GOST R 55042-2012 無(wú)損檢測(cè). 采用超聲波估算金屬鍍層厚度. 通用要求
GOST R ISO 16962-2012 鋼表面鋅基和/或鋁基鍍層. 采用輝光放電原子發(fā)射光譜法對(duì)單位面積鍍層厚度, 化學(xué)成分和質(zhì)量的測(cè)定
NF A91-481-2010 鋁和鋁合金陽(yáng)極氧化.陽(yáng)極氧化物鍍層厚度的測(cè)定.分光顯微鏡的無(wú)損測(cè)量
KS D 8519-2009 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測(cè)定.顯微鏡法

鍍層厚度檢測(cè) 服務(wù)優(yōu)勢(shì)

1.國(guó)科控股旗下獨(dú)立第三方檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)。


2.豐富的政策解讀、行業(yè)調(diào)研及實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)。


3.與相關(guān)政府部門(mén)及行業(yè)協(xié)會(huì)長(zhǎng)期密切合作。