α、β表面污染測量

α、β表面污染測量主要用于各種物質(zhì)的低水平總α、總β的放射性比活度的精確測量。α、β表面污染測量可檢測放射性工作場所和實驗室的工作臺面、地板、墻面、手、衣服、鞋等表面受α或β放射性污染的程度。

中科檢測開展α、β表面污染測量服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。

直接法：用儀器在待測物(場所）的表面適當(dāng)距離進(jìn)行測量。通過同樣測試條件下的已知源（與被測點可能污染核素相同或其發(fā)射的β射線能量相近）活度來確定表面污染測量值。（定量)
間接法：通過搽拭或去污等方式將待測物（場所)一定面積上的污染物轉(zhuǎn)移至實驗室固定的儀器設(shè)備進(jìn)行測量。需要確定2個因子：搽拭面積、轉(zhuǎn)移（去污)系數(shù)，才能根據(jù)固定實驗設(shè)備測得值計算表面污染值。（定性是否為表面污染、半定量)

GB/T 14056.1-2008 表面污染測定 第1部分:β發(fā)射體(Eβmax>0.15MeV)和α發(fā)射體
GB/T5202 輻射防護(hù)儀器 a、β和a/β（β能量大于60keV)污染測量儀與監(jiān)測儀
GB/T12128 用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測儀的參考源β發(fā)射體和a發(fā)射體
GB 18871 電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)

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