X射線熒光光譜儀測(cè)試

X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法中科檢測(cè)可以提供X射線熒光光譜儀測(cè)試服務(wù),報(bào)告具有CMA和CNAS資質(zhì)。
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X熒光光譜儀 測(cè)試介紹

X射線熒光分析是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級(jí)發(fā)射光譜分析,是利用原級(jí)X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生次級(jí)的特征X射線(X光熒光)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。

X熒光光譜儀 檢測(cè)范圍

1、涂層成分和厚度分析 

X射線熒光光譜儀可以準(zhǔn)確檢測(cè)多層,即多層合金的厚度和成分、上下元素的重復(fù)鍍層、輕元素和有機(jī)物的鍍層和滲透層。 

 2、環(huán)境檢測(cè)解決方案  

X射線熒光光譜儀可以檢測(cè)多種重金屬和有害元素,檢測(cè)的檢出限可以達(dá)到1ppm以下。  

3、全要素分析 

X射線熒光光譜儀可以分析各種合金、礦石、土壤、珠寶等的元素組成,可以檢測(cè)各種常見(jiàn)的貴金屬和稀土。適用于廣泛的行業(yè),無(wú)論是電鍍、5G通訊、新能源、五金建材、半導(dǎo)體、地礦、珠寶、汽車,還是高精密電子、芯片、航空航天等行業(yè)。

X熒光光譜儀 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 41497-2022 釩鐵 釩、硅、磷、錳、鋁、鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法 

 GB/T 3286.11-2022 石灰石及白云石化學(xué)分析方法 第11部分:氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 6609.30-2022 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測(cè)定方法 第30部分:微量元素含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法 

 GB/T 40915-2021 X射線熒光光譜法測(cè)定鈉鈣硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量 

GB/T 5687.13-2021 鉻鐵 鉻、硅、錳、鈦、釩和鐵含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)

 GB/T 40312-2021 磷鐵 磷、硅、錳和鈦含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 40311-2021 釩渣 多元素的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法) 

 GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定硅片表面元素污染 

 GB/T 39560.301-2020 電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測(cè)定 第3-1部分:X射線熒光光譜法篩選鉛、汞、鎘、總鉻和總溴 

GB/T 8151.22-2020 鋅精礦化學(xué)分析方法 第22部分:鋅、銅、鉛、鐵、鋁、鈣和鎂含量的測(cè)定 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法

X射線熒光光譜儀測(cè)試 服務(wù)優(yōu)勢(shì)

1.擁有資深專家團(tuán)隊(duì),專業(yè)的工程師團(tuán)隊(duì)和全面的檢測(cè)能力。


2.多年檢測(cè)行業(yè)經(jīng)驗(yàn),成熟的質(zhì)量管控團(tuán)隊(duì),可為客戶提供質(zhì)量管控方案。


3.專業(yè)的體系審核團(tuán)隊(duì),可為企業(yè)提供質(zhì)量審核服務(wù),查找質(zhì)量問(wèn)題降低質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。


4.中科檢測(cè)是綜合化的檢測(cè)集團(tuán),集檢驗(yàn)檢測(cè)、認(rèn)證鑒定、技術(shù)服務(wù)、咨詢培訓(xùn)為一體的公共服務(wù)機(jī)構(gòu)。