低溫貯存試驗(yàn)

低溫貯存試驗(yàn)對(duì)于確保產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性具有重要意義。中科檢測(cè)開展低溫貯存試驗(yàn)服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。
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低溫貯存試驗(yàn) 項(xiàng)目介紹

低溫貯存試驗(yàn)是氣候環(huán)境試驗(yàn)中常用的一種測(cè)試類型，主要用于評(píng)估產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的貯存能力。試驗(yàn)過程中，將產(chǎn)品放置在特定的低溫環(huán)境中一段時(shí)間，觀察其性能變化和是否出現(xiàn)故障。中科檢測(cè)開展低溫貯存試驗(yàn)服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。

低溫貯存 試驗(yàn)方法

被測(cè)產(chǎn)品不包裝、不通電，以正常位置放入試驗(yàn)箱內(nèi)，使試驗(yàn)箱溫度達(dá)到-20±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)16小時(shí)，持續(xù)期滿，在正常大氣條件下放置2H，放置期滿，被測(cè)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后的檢查。

低溫貯存 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 32065.3-2015 海洋儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：低溫貯存試驗(yàn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
IEC60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫
GIB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

低溫貯存試驗(yàn) 服務(wù)優(yōu)勢(shì)

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。


2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。


3.技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。


4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球，眾多一線品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。


低溫貯存試驗(yàn) 報(bào)告用途

銷售：出具檢測(cè)報(bào)告，提成產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力；

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本；

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量，減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)；

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量；

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù)；

競(jìng)標(biāo)：報(bào)告認(rèn)可度高，提高競(jìng)標(biāo)成功率；