EMC測(cè)試

EMC測(cè)試，即電磁兼容測(cè)試，是對(duì)電子產(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面的干擾大?。‥MI）和抗干擾能力（EMS）進(jìn)行的綜合評(píng)定。這是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，其測(cè)量系統(tǒng)主要由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。EMC測(cè)試的主要目的是檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共場(chǎng)所電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。
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EMC由EMI(EMI)和EMS(EMS)兩部分組成，稱為EMIEMIEMI，此噪聲不會(huì)對(duì)其他系統(tǒng)起到應(yīng)有作用，但對(duì)機(jī)器本身沒有好處；EMS則是指機(jī)器在執(zhí)行應(yīng)有的功能時(shí)，不會(huì)受到周圍電磁環(huán)境的影響。
1、EMI(Electro-MagneticInterference)：電磁騷擾測(cè)試，其目的是：探測(cè)由電子產(chǎn)品產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體的影響.公網(wǎng)和其它正常工作的電子產(chǎn)品。
2、EMS(Electro-MagneticSusceptibility)：電磁抗擾度測(cè)試，其目的是：檢測(cè)電子產(chǎn)品在電磁環(huán)境下是否能穩(wěn)定工作，不受影響。

EMI測(cè)試：
輻射騷擾測(cè)試、傳導(dǎo)騷擾測(cè)試、諧波電流騷擾試驗(yàn)、電壓變化和閃爍測(cè)試。
EMS測(cè)試：
抗靜電干擾試驗(yàn)、電磁場(chǎng)的輻射抗干擾試驗(yàn)、射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)、電壓驟降、短時(shí)中斷、電壓變化抗擾度測(cè)試、浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)、快速瞬態(tài)脈沖群抗擾度的測(cè)定。

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