SEM能譜檢測

SEM能譜是一種結(jié)合了SEM和能量散射光譜(EDS)的分析方法。
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SEM能譜 檢測介紹

SEM(掃描電子顯微鏡)能譜是一種結(jié)合了SEM和能量散射光譜(EDS)的分析方法。它能夠提供樣品表面的元素組成和分布信息,并可以對微區(qū)進(jìn)行元素分析。
SEM能譜具有較高的空間分辨率和元素分辨率,可以用于觀察和分析樣品的表面形貌、元素分布以及合金的相組成等。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供了一種重要的分析手段。
中科檢測開展SEM能譜檢測服務(wù),可為高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物等產(chǎn)品提供專業(yè)的SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等服務(wù)。

SEM能譜 檢測范圍

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料分析;
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;
3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析,如:金屬化膜表面鍍層的檢測;
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領(lǐng)域;
5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析。

SEM能譜 檢測項目

SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等。

SEM能譜 檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法
DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

SEM能譜檢測 服務(wù)優(yōu)勢

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可,測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,檢測報告具有國際公信力。


2.科學(xué)的實驗室信息管理系統(tǒng),保障每個服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運轉(zhuǎn)。


3.技術(shù)專家團(tuán)隊實踐經(jīng)驗豐富,可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。


4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球,眾多一線品牌指定合作實驗室。


SEM能譜檢測 報告用途

銷售:出具檢測報告,提成產(chǎn)品競爭力;

研發(fā):縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本;

質(zhì)量:判定原料質(zhì)量,減少生產(chǎn)風(fēng)險;

診斷:找出問題根源,改善產(chǎn)品質(zhì)量;

科研:定制完整方案,提供原始數(shù)據(jù);

競標(biāo):報告認(rèn)可度高,提高競標(biāo)成功率;


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